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原子力顯微鏡(教學(xué)型) WY-T-AFM

原子力顯微鏡(教學(xué)型) WY-T-AFM
◆性能特點:小型化及可拆卸化設(shè)計,非常便于攜帶及教學(xué)。激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體,結(jié)構(gòu)非常穩(wěn)定,抗干擾性強。精密探針定位裝置,激光光斑對準(zhǔn)調(diào)節(jié)非常簡便。單軸驅(qū)動樣品自動垂直接近探針,使針尖垂直于樣品掃描。馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式,保護探針及樣品。自動光學(xué)定位,無需調(diào)焦,實時觀測與
服務(wù)熱線: 4001-123-022
  • ◆性能特點:
    小型化及可拆卸化設(shè)計,非常便于攜帶及教學(xué)。

    激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體,結(jié)構(gòu)非常穩(wěn)定,抗干擾性強。
    精密探針定位裝置,激光光斑對準(zhǔn)調(diào)節(jié)非常簡便。
    單軸驅(qū)動樣品自動垂直接近探針,使針尖垂直于樣品掃描。
    馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式,保護探針及樣品。
    自動光學(xué)定位,無需調(diào)焦,實時觀測與定位探針樣品掃描區(qū)域。
    彈簧懸掛式防震方式,簡單實用,防震效果好。

    集成掃描器非線性校正用戶編輯器,納米表征和測量精度優(yōu)于98%。

     

    ◆測量范圍及應(yīng)用:

    測量范圍:二維、三維、Z值、相位、表面形貌、粗糙度、膜厚、形貌、相位。

    應(yīng)用:納米材料、石墨烯、薄膜、鈍化膜、短切玻纖復(fù)材、分子篩、TiO2、CrPS4(15)、CrPS4(16)、中空纖維膜絲、粗糙度測試、四氧化三鐵、M13-PBA等。


    ◆ 應(yīng)用案例 Application Case

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  • 序號

    名稱

    技術(shù)參數(shù)

    01

    工作模式

    輕敲模式、RMS-Z曲線

    02

    選配模式

    接觸、摩擦力/側(cè)向力、振幅/相位、磁力/靜電力

    03

    選配力曲線

    F-Z力曲線

    04

    XY掃描范圍

    20×20um,可選50×50um100×100um

    05

    Z掃描范圍

    2.5um,可選5um10um

    06

    掃描分辨率

    橫向0.2nm,縱向0.05nm

    07

    樣品尺寸

    Φ≤90mmH≤20mm

    08

    樣品臺行程

    15×15mm

    09

    光學(xué)觀察

    4X光學(xué)物鏡/2.5um分辨率

    10

    掃描速率

    0.6Hz~30Hz

    11

    掃描角度

    0~360°

    12

    運行環(huán)境

    Windows XP/7/8/10操作系統(tǒng)

    13

    通信接口

    USB2.0/3.0

    14

    減震設(shè)計

    彈簧懸掛方式


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